ФР.1.27.2009.06710
Методика измерений структурных характеристик наноматериалов по микрофотографиям образцов
| Номер / код | ФР.1.27.2009.06710 |
|---|---|
| Вид | Аттестованная методика измерений |
| Статус документа | Действует |
| Назначение | Для контроля структуры наноматериалов различного химического состава |
| Измеряемая величина | Размерность подобия |
| Метод измерений | Анализ свойств микрорельефа поверхности по микрофотографиям, полученным методами просвечивающей и электронной микроскопии |
| Вид измерений | Геометрические измерения |
| Пределы измерений | 1…3 |
| Характеристика погрешности | 1 % |
| Разработчик | Казанский государственный технический универси-тет им. А.Н. Туполева |
| Аттестующая организация | ФГУП "ВНИИМС" |
| Дата свидетельства | 2009-11-10 |
Источник: ФИФ ОЕИ, реестр 16 «Аттестованные методики (методы) измерений». Текст документа в каталоге не хранится — только реквизиты.
Ведёте реестр методик лаборатории? В QA Деск эту методику можно взять в реестр одной кнопкой — она встанет на верификацию, а показатели и неопределённость подтвердит ваш прогон. Как это устроено · Поиск по каталогу