ФР.1.27.2011.11532
Методика (метод) измерений параметров шероховатости и топографии поверхности на оптическом профилометре
| Номер / код | ФР.1.27.2011.11532 |
|---|---|
| Вид | Аттестованная методика измерений |
| Статус документа | Действует |
| Назначение | Предназначена для контроля топографии поверхности и параметров шероховатости поверхности изделий независимо от материала и способа изготовления, в т.ч. Поверхности покрытий и тонких пленок, полученных физическими и химическими методами осаждения. |
| Измеряемая величина | Шероховатость поверхности |
| Метод измерений | Оптическая интерферометрическая микроскопия |
| Вид измерений | Геометрические измерения |
| Пределы измерений | 0,1 - 3,2 мкм |
| Характеристика погрешности | +/-0,009 мкм |
| Разработчик | ФГУП 'ВНИИМС' |
| Аттестующая организация | ФГУП "ВНИИМС" |
| Дата свидетельства | 2010-11-17 |
Источник: ФИФ ОЕИ, реестр 16 «Аттестованные методики (методы) измерений». Текст документа в каталоге не хранится — только реквизиты.
Ведёте реестр методик лаборатории? В QA Деск эту методику можно взять в реестр одной кнопкой — она встанет на верификацию, а показатели и неопределённость подтвердит ваш прогон. Как это устроено · Поиск по каталогу