qadesk.ru / Методики / ФР.1.27.2013.14020

ФР.1.27.2013.14020

Распределение захваченных наночастиц на поверхности волокон фильтрующего материала. Методика измерений с помощью растрового электронного микроскопа

Номер / кодФР.1.27.2013.14020
ВидАттестованная методика измерений
Статус документаДействует
НазначениеМетодика измерений предназначена для измерений распределения наночастиц на поверхности волокон фильтрующего материала
Измеряемая величинаРазмер частиц, средний параметроднородности распределения наночастиц
Метод измеренийМетод растровой электронной микроскопии
Вид измеренийГеометрические измерения
Пределы измеренийРазмеры наночастиц от 50 нм до 1000 нм
Характеристика погрешностиПределы допускаемой относительной погрешности измерений размера частиц, среднего параметра однородности распределения наночастиц по волокну фильтра по данной методике при доверительной вероятности P = 0,95 составляют  11 %
РазработчикООО 'Метрологический центр 'РОСНАНО'
Аттестующая организацияООО "МЦ РОСНАНО"
Дата свидетельства2012-12-10

Источник: ФИФ ОЕИ, реестр 16 «Аттестованные методики (методы) измерений». Текст документа в каталоге не хранится — только реквизиты.

Ведёте реестр методик лаборатории? В QA Деск эту методику можно взять в реестр одной кнопкой — она встанет на верификацию, а показатели и неопределённость подтвердит ваш прогон. Как это устроено · Поиск по каталогу