qadesk.ru / Методики / ФР.1.27.2013.14021

ФР.1.27.2013.14021

Методика измерений параметров микроструктуры пленок из углеродных наноматериалов. Методика измерений с помощью растрового электронного микроскопа

Номер / кодФР.1.27.2013.14021
ВидАттестованная методика измерений
Статус документаДействует
НазначениеМетодика измерений предназначена для измерений характерной площади углеродных нановолокон на поверхности бумаги
Измеряемая величинаХарактерная площадь, степень однородности, ориентация нановолокон на поверхности углеродной бумаги
Метод измеренийМетод растровой электронной микроскопии
Вид измеренийГеометрические измерения
Пределы измеренийДиаметры наночастиц от 10 нм до 500 нм
Характеристика погрешностиПределы допускаемой относительной погрешности измерений эффективной площади поверхности, степени однородности и ориентации нановолокон при доверительной вероятности P = 0,95 составляют+/-9 %.
РазработчикООО 'Метрологический центр 'РОСНАНО'
Аттестующая организацияООО "МЦ РОСНАНО"
Дата свидетельства2012-12-20

Источник: ФИФ ОЕИ, реестр 16 «Аттестованные методики (методы) измерений». Текст документа в каталоге не хранится — только реквизиты.

Ведёте реестр методик лаборатории? В QA Деск эту методику можно взять в реестр одной кнопкой — она встанет на верификацию, а показатели и неопределённость подтвердит ваш прогон. Как это устроено · Поиск по каталогу