qadesk.ru / Методики / ФР.1.27.2013.14023

ФР.1.27.2013.14023

Толщина и фазовое состояние оксидной оболочки на поверхности металлических частиц. Методика измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа

Номер / кодФР.1.27.2013.14023
ВидАттестованная методика измерений
Статус документаДействует
НазначениеМетодика измерений предназначена для измерений толщины оксидной оболочки и ее фазовое состояние на поверхности металлических наночастиц
Измеряемая величинаТолщина и фазовое состояние оксидной оболочки
Метод измеренийМетод просвечивающей электронной микроскопии
Вид измеренийГеометрические измерения
Пределы измеренийТолщина оксидной оболочки от 1 нм до 10 нм
Характеристика погрешностиПределы допускаемой относительной погрешности измерений толщины оксидной оболочки при доверительной вероятности P = 0,95 составляют ± 6 %.
РазработчикООО 'Метрологический центр 'РОСНАНО'
Аттестующая организацияООО "МЦ РОСНАНО"
Дата свидетельства2012-12-20

Источник: ФИФ ОЕИ, реестр 16 «Аттестованные методики (методы) измерений». Текст документа в каталоге не хранится — только реквизиты.

Ведёте реестр методик лаборатории? В QA Деск эту методику можно взять в реестр одной кнопкой — она встанет на верификацию, а показатели и неопределённость подтвердит ваш прогон. Как это устроено · Поиск по каталогу