qadesk.ru / Методики / ФР.1.27.2015.20476

ФР.1.27.2015.20476

Методика измерений параметров микроструктуры композита на основе системы Nb-Si с применением методов оптической и сканирующей электронной микроскопии

Номер / кодФР.1.27.2015.20476
ВидАттестованная методика измерений
Статус документаДействует
НазначениеУстанавливает условия и порядок проведения измерений геометрических параметров микроструктуры композита на основе системы Nb-Si оптическим и электронно микроскопическим методами.
Измеряемая величинаМикрометры
Метод измеренийИзмерения геометрических характеристик частиц оксида гафния в образцах композита на основе системы Nb-Si выполняют методом оптической микроскопии с использованием анализатора изображений.
Вид измеренийГеометрические измерения
Пределы измеренийсм. приложение
Характеристика погрешностисм. приложение
РазработчикФГУП 'ВИАМ'
Аттестующая организацияФГУП "ВНИИОФИ"
Дата свидетельства2014-09-01

Источник: ФИФ ОЕИ, реестр 16 «Аттестованные методики (методы) измерений». Текст документа в каталоге не хранится — только реквизиты.

Ведёте реестр методик лаборатории? В QA Деск эту методику можно взять в реестр одной кнопкой — она встанет на верификацию, а показатели и неопределённость подтвердит ваш прогон. Как это устроено · Поиск по каталогу