qadesk.ru / Методики / ФР.1.27.2025.51634

ФР.1.27.2025.51634

Методика измерений угла отклонения плоской поверхности образца от заданной кристаллографической плоскости для монокристаллических пластин полупроводниковых материалов дифрактометрическим методом МИ 02.9ДИФР.01-2025

Номер / кодФР.1.27.2025.51634
ВидАттестованная методика измерений
Статус документаДействует
НазначениеДля контроля исследуемого материала и требуемой кристаллографической ориентации
Измеряемая величинаугол отклонения плоской поверхности образца от заданной кристаллографической плоскости
Метод измеренийКосвенные измерения
Вид измеренийГеометрические измерения
Пределы измеренийУгол отклонения (γ), град. от 0,005 до 20,0
Характеристика погрешностиОтносительная расширенная неопределенность измерений угла отклонения γ (Р = 0,95), не более 0,0111
РазработчикАО «Гиредмет»
Аттестующая организацияФБУ «НИЦ ПМ – РОСТЕСТ»
Дата свидетельства2025-05-27

Источник: ФИФ ОЕИ, реестр 16 «Аттестованные методики (методы) измерений». Текст документа в каталоге не хранится — только реквизиты.

Ведёте реестр методик лаборатории? В QA Деск эту методику можно взять в реестр одной кнопкой — она встанет на верификацию, а показатели и неопределённость подтвердит ваш прогон. Как это устроено · Поиск по каталогу