ФР.1.31.2011.11135
Определение толщины покрытий методами растровой двулучевой электронно-ионной микроскопии
| Номер / код | ФР.1.31.2011.11135 |
|---|---|
| Вид | Аттестованная методика измерений |
| Статус документа | Действует |
| Назначение | Измерение толщины покрытий методами растровой двулучевой электронно-ионной микроскопии |
| Измеряемая величина | Толщина покрытия |
| Метод измерений | Растровая электронно-ионная микроскопия |
| Вид измерений | Физико-химические измерения |
| Пределы измерений | 50 - 10 000 нм |
| Характеристика погрешности | От 10% для толщины 50 нм до 1% для толщины 10 000 нм |
| Разработчик | ФГУП 'ЦНИИ КМ 'Прометей' |
| Аттестующая организация | ФГУП "ВНИИМС" |
| Дата свидетельства | 2011-11-02 |
Источник: ФИФ ОЕИ, реестр 16 «Аттестованные методики (методы) измерений». Текст документа в каталоге не хранится — только реквизиты.
Ведёте реестр методик лаборатории? В QA Деск эту методику можно взять в реестр одной кнопкой — она встанет на верификацию, а показатели и неопределённость подтвердит ваш прогон. Как это устроено · Поиск по каталогу