qadesk.ru / Методики / ФР.1.31.2022.42326

ФР.1.31.2022.42326

Методика измерений оптической плотности пленки антиотражающего покрытия (АОП) при 193 нм, приведенной к 1 мкм, спектрофотометрическим и рентгенодифрактометрическим методом № 45395250.001

Номер / кодФР.1.31.2022.42326
ВидАттестованная методика измерений
Статус документаДействует
НазначениеПредназначена для измерения оптической плотности пленки антиотражающего покрытия (АОП) при длине волны 193 нм, приведенной к 1 мкм.
Измеряемая величинаОптическая плотность, приведенная к 1 мкм
Метод измеренийСпектрофотометрический и рентгенодифрактометрический метод
Вид измеренийФизико-химические измерения
Пределы измеренийсм. приложение
Характеристика погрешностисм. приложение
РазработчикООО «ПОЛИКЕТОН»
Аттестующая организацияФГУП "ВНИИМС"
Дата свидетельства2021-05-19

Источник: ФИФ ОЕИ, реестр 16 «Аттестованные методики (методы) измерений». Текст документа в каталоге не хранится — только реквизиты.

Ведёте реестр методик лаборатории? В QA Деск эту методику можно взять в реестр одной кнопкой — она встанет на верификацию, а показатели и неопределённость подтвердит ваш прогон. Как это устроено · Поиск по каталогу