qadesk.ru / Методики / ФР.1.31.2026.53824

ФР.1.31.2026.53824

М 239-2026 "Методика измерений времени жизни неравновесных носителей заряда в слитках и пластинах высокоомного монокристаллического кремния бесконтактным методом по спаду фотопроводимости"

Номер / кодФР.1.31.2026.53824
ВидАттестованная методика измерений
Статус документаДействует
НазначениеМетодика измерений предназначена для времени жизни неравновесных носителей заряда в слитках и пластинах высокоомного монокристаллического кремния, включая слитки Si-Fz и Si-Fz-НТЛ, пластины Si-Fz и Si-Fz-НТЛ, бесконтактным методом по спаду фотопроводимости. Методика предназначена для применения в АО «НИИП»
Измеряемая величинаВремя жизни неравновесных носителей заряда
Метод измеренийБесконтактный метод по спаду фотопроводимости
Вид измеренийФизико-химические измерения
Пределы измеренийОт 10 до 2000 мкс включ.
Характеристика погрешностиПГО ±24 % (Р=0,95)
РазработчикАкционерное общество «Научно-исследовательский институт приборов» (АО «НИИП»)
Аттестующая организацияУРАЛЬСКИЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ МЕТРОЛОГИИ (УНИИМ-филиал ФГУП "ВНИИМ им. Д.И.Менделеева")
Дата свидетельства2026-04-08

Источник: ФИФ ОЕИ, реестр 16 «Аттестованные методики (методы) измерений». Текст документа в каталоге не хранится — только реквизиты.

Ведёте реестр методик лаборатории? В QA Деск эту методику можно взять в реестр одной кнопкой — она встанет на верификацию, а показатели и неопределённость подтвердит ваш прогон. Как это устроено · Поиск по каталогу