qadesk.ru / Методики / ФР.1.34.2025.51381

ФР.1.34.2025.51381

МИ 56897835-007-2024 «Методика измерений коэффициентов отражения и прохождения образцов материалов и покрытий, электродинамических параметров листовых образцов материалов в диапазоне частот от 1 до 40 ГГц, а также измерений коэффициента отражения образцов материалов и покрытий в диапазоне частот от 2 до 24 ГГц и в интервале температур от 20 °С до 180 °С»

Номер / кодФР.1.34.2025.51381
ВидАттестованная методика измерений
Статус документаДействует
НазначениеДля измерений коэффициентов отражения и прохождения образцов материалов и покрытий (далее – КО (образцов материалов), КП (образцов материалов)) при нормальном падении электромагнитной волны (далее – ЭМВ), электродинамических параметров листовых образцов материалов (комплексных относительных диэлектрической и магнитной проницаемостей) при нормальном падении ЭМВ в диапазоне частот от 1 до 40 ГГц в нормальных условиях, а также измерений КО (образцов материалов) в интервале температур от 20 °С до 180 °С при нормальном падении ЭМВ в диапазоне частот от 2 до 24 ГГц
Измеряемая величинаКоэффициент отражения образцов материалов и покрытий; коэффициент прохождения образцов материалов и покрытий; относительная комплексная диэлектрическая проницаемость листовых образцов магнитных и немагнитных материалов; относительная комплексная магнитной проницаемость листовых образцов магнитных материалов.
Метод измеренийМетодика измерений КО и КП основана на использовании метода сравнения с мерами, в качестве которых используется металлическая пластина и воздушное пространство соответственно. Измерение электродинамических параметров (комплексных диэлектрической и магнитной проницаемостей) плоских листовых образцов материалов основано на измерении значений комплексных КО и КП плоской ЭМВ от плоского образца и расчете его электродинамических параметров по формулам Френеля.
Вид измеренийЭлектрические и магнитные измерения
Пределы измеренийсм. приложение
Характеристика погрешностисм. приложение
РазработчикАкционерное общество «Композит» (АО «Композит»)
Аттестующая организацияФГУП «ВНИИФТРИ»
Дата свидетельства2025-04-23

Источник: ФИФ ОЕИ, реестр 16 «Аттестованные методики (методы) измерений». Текст документа в каталоге не хранится — только реквизиты.

Ведёте реестр методик лаборатории? В QA Деск эту методику можно взять в реестр одной кнопкой — она встанет на верификацию, а показатели и неопределённость подтвердит ваш прогон. Как это устроено · Поиск по каталогу