ФР.1.99.2015.20406
Методика измерений доли поверхности образца, занимаемой царапинами с глубиной более 20 нм
| Номер / код | ФР.1.99.2015.20406 |
|---|---|
| Вид | Аттестованная методика измерений |
| Статус документа | Действует |
| Назначение | Измерение доли поверхности образца, занимаемой царапинами с глубиной более 20 нм |
| Измеряемая величина | Шероховатость поверхности |
| Метод измерений | С использование сканирующего бесконтактного профилометра NEW VIEW |
| Вид измерений | Измерения в наноиндустрии |
| Пределы измерений | Диапазон значений доли поверхности образца, занимаемой царапинами с глубиной более 20 нм от 0 до 1 |
| Характеристика погрешности | Относительная расширенная неопределенность результатов измерений доли поверхности образца, занимаемой царапинами с глубиной более 20 нм должна быть менее 20% при доверительной вероятности Р = 0,95 (коэффициент охвата k=2). |
| Разработчик | ООО 'Метрологический центр 'РОСНАНО' |
| Аттестующая организация | ООО "МЦ РОСНАНО" |
| Дата свидетельства | 2013-11-25 |
Источник: ФИФ ОЕИ, реестр 16 «Аттестованные методики (методы) измерений». Текст документа в каталоге не хранится — только реквизиты.
Ведёте реестр методик лаборатории? В QA Деск эту методику можно взять в реестр одной кнопкой — она встанет на верификацию, а показатели и неопределённость подтвердит ваш прогон. Как это устроено · Поиск по каталогу