qadesk.ru / Методики / ФР.1.99.2015.20417

ФР.1.99.2015.20417

Параметры микроструктуры распределения наночастиц на поверхности волокнистого фильтра. Методика измерений с помощью растрового электронного микроскопа

Номер / кодФР.1.99.2015.20417
ВидАттестованная методика измерений
Статус документаДействует
НазначениеИзмерение параметров микроструктуры распределения наночастиц на поверхности волокнистого фильтра
Измеряемая величинаРазмер наночастиц, однородность распределения наночастиц
Метод измеренийРасчетный с помощью растрового электронного микроскопа
Вид измеренийИзмерения в наноиндустрии
Пределы измеренийДиапазон размера наначастиц от 30 нм до 1 мкм
Характеристика погрешностиПределы относительной погрешности измерений при доверительной вероятности 95% составляют: - среднего размера наночастиц ± 15 %; - параметра однородности распределения наночастиц и их агрегатов по во-локну фильтра ± 7 %
РазработчикООО 'Метрологический центр 'РОСНАНО'
Аттестующая организацияООО "МЦ РОСНАНО"
Дата свидетельства2013-12-20

Источник: ФИФ ОЕИ, реестр 16 «Аттестованные методики (методы) измерений». Текст документа в каталоге не хранится — только реквизиты.

Ведёте реестр методик лаборатории? В QA Деск эту методику можно взять в реестр одной кнопкой — она встанет на верификацию, а показатели и неопределённость подтвердит ваш прогон. Как это устроено · Поиск по каталогу