qadesk.ru / Методики / ФР.1.99.2015.21612

ФР.1.99.2015.21612

Методика измерений линейных размеров наноструктур методами сканирующей зондовой микроскопии. МИЛ-02-2015

Номер / кодФР.1.99.2015.21612
ВидАттестованная методика измерений
Статус документаДействует
НазначениеУстанавливает методику выполнения измерений линейных размеров наноструктур с применением сканирующего зондового микроскопа СмартСПМ-1000
Измеряемая величинаЛинейные размеры
Метод измеренийВсе значения физических величин определяются прямым методом
Вид измеренийИзмерения в наноиндустрии
Пределы измеренийОт 1 нм до 100 мкм для латеральных размеров
Характеристика погрешностиПределы допускаемой относительной погрешности измерений линейных размеров исследуемых структур составляет не более ±2% при доверительной вероятности 0,95
РазработчикФГОУ ВПО 'МИЭТ' (ТУ) Московский институт электронной техники
Аттестующая организацияФГУП "ВНИИМС"
Дата свидетельства2015-10-19

Источник: ФИФ ОЕИ, реестр 16 «Аттестованные методики (методы) измерений». Текст документа в каталоге не хранится — только реквизиты.

Ведёте реестр методик лаборатории? В QA Деск эту методику можно взять в реестр одной кнопкой — она встанет на верификацию, а показатели и неопределённость подтвердит ваш прогон. Как это устроено · Поиск по каталогу