ФР.1.99.2015.22075
Методика измерений межплоскостных расстояний в галереях наноглины методами рентгеновской дифрактометрии
| Номер / код | ФР.1.99.2015.22075 |
|---|---|
| Вид | Аттестованная методика измерений |
| Статус документа | Действует |
| Назначение | устанавливает совокупность операций, выполнение которых обеспечивает получение результатов измерений межплоскостного расстояния в галереях наноглины |
| Измеряемая величина | размер слоев тонкопленочных гетероструктур светодиодных чипов |
| Метод измерений | Измерения межплоскостных расстояний наноглины выполняют методом исследования структурных характеристик материала при помощи дифракции рентгеновских лучей (рентгеноструктурный анализ). |
| Вид измерений | Измерения в наноиндустрии |
| Пределы измерений | от 0,08 до 20 нм |
| Характеристика погрешности | предел допускаемой относительной погрешности не более 5 % от среднего значения измерений. |
| Разработчик | Автономная некоммерческая организация 'Центр сертификации продукции и систем менеджмента в сфере наноидндустрии' (АНО 'Наносертифика') |
| Аттестующая организация | ФГУП "ВНИИОФИ" |
| Дата свидетельства | 2015-12-18 |
Источник: ФИФ ОЕИ, реестр 16 «Аттестованные методики (методы) измерений». Текст документа в каталоге не хранится — только реквизиты.
Ведёте реестр методик лаборатории? В QA Деск эту методику можно взять в реестр одной кнопкой — она встанет на верификацию, а показатели и неопределённость подтвердит ваш прогон. Как это устроено · Поиск по каталогу