qadesk.ru / Методики / ФР.1.99.2019.35932

ФР.1.99.2019.35932

Параметры кристаллической решетки оксида графена. Методика измерений расстояний между параллельными кристаллографическими плоскостями в оксиде графена при помощи настольного рентгеновского дифрактометра «Дифрей»-401

Номер / кодФР.1.99.2019.35932
ВидАттестованная методика измерений
Статус документаДействует
НазначениеУстанавливает совокупность конкретно описанных операций, выполнение которых обеспечивает получение результатов измерений расстояний между параллельными кристаллографическими плоскостями (межплоскостные расстояния) в оксиде графена
Измеряемая величинаЛинейный размер – Å (ангстрем)
Метод измеренийИзмерения расстояний между параллельными кристаллографическими плоскостями (межплоскостные расстояния) в оксиде графена выполняют методом регистрации углового положения Брэгговских отражений дифракционной картины образца с целью определения его качественного фазового состава с дальнейшей математической обработкой
Вид измеренийИзмерения в наноиндустрии
Пределы измеренийот 6 до 12 Å
Характеристика погрешностиПредел допускаемой относительной погрешности измерений расстояний между параллельными кристаллографическими плоскостями в оксиде графена не более ± 2,5 %
РазработчикОбществом с ограниченной ответственностью «Новые материалы и технологии гражданского назначения» (ООО «НМТГН»)
Аттестующая организацияФГУП "ВНИИОФИ"
Дата свидетельства2019-09-12

Источник: ФИФ ОЕИ, реестр 16 «Аттестованные методики (методы) измерений». Текст документа в каталоге не хранится — только реквизиты.

Ведёте реестр методик лаборатории? В QA Деск эту методику можно взять в реестр одной кнопкой — она встанет на верификацию, а показатели и неопределённость подтвердит ваш прогон. Как это устроено · Поиск по каталогу